隨著全球對食（shí）品安全性及出口食品衛生與質量要求的逐步提高,也（yě）為了不讓多年努力建立（lì）起來的（de）良好品質形象和公司信譽受到破壞,防止金屬（shǔ）異物混入食品製品中就（jiù）成為品質管理（lǐ）中的必須話題。

由於金屬異物的混入導（dǎo）致公司產品（pǐn）品牌（pái）效應大幅下跌（diē）,已經屢見不（bú）鮮。想要（yào）將其重新（xīn）恢複必須付（fù）出加（jiā）倍的努力,一旦發展到了訴（sù）訟的地步,還很有可能發生龐（páng）大的訴訟及賠償費用;另（lìng）外（wài）如果金屬異物混入後造（zào）成高端生產設備的破壞,那不但要發生設備的修理費用還將造成生產上的各種浪費。

雖然生產過程（chéng）中有嚴（yán）格管理（lǐ）程序,對金屬異物（wù）的混入采取了相應的防護措（cuò）施,但始終不能完全排除。由原（yuán）材料引（yǐn）起（qǐ）的金屬混入,如肉中含有殘留的斷針,粉狀原料中混入的釘子,魚鉤,訂書（shū）釘等;人（rén）為原因引起的,如紐扣、硬幣、鑰匙、戒指、項鏈等,由生產現場修（xiū）理引（yǐn）起的,遺忘的螺絲刀、螺（luó）帽（mào）、螺絲（sī）、焊接時的焊渣、清（qīng）掃不（bú）充分的金屬屑等,還有車間內工程引起（qǐ）的,如設備的老化落下的（de）鐵（tiě）鏽（xiù）、舊（jiù）的缺損片、輸送帶上的零部件、不鏽鋼篩網的斷裂片、切片機和破（pò）碎（suì）機刀片等都是金屬混（hún）入的罪魁禍（huò）首(筆者曾經為一家茶葉廠提（tí）供食品金屬探（tàn）測器服務,試驗時,其所有成品都不可（kě）以通過食品金屬（shǔ）探測（cè）器的檢查,而該茶廠安（ān）全負責人員口口聲聲稱,該茶葉不可能（néng）還（hái）有金屬屑,後來把部分成品打開包裝,用磁（cí）鐵一試,竟（jìng）然發現（xiàn）有大塊類似茶葉的鐵（tiě）屑,原來,茶葉在加工過程中不可避免的要使用大鐵鍋翻炒,鐵鍋日久積鏽掉（diào）落引起的金屬異物混入)。 

傳統的一體型金屬檢（jiǎn）測（cè）機如何檢測這些混入產品中的金屬呢?放在（zài）食品傳送帶（dài）上方的（de）巨大的磁鐵就是金屬檢測機的雛形,當產品中的金屬異物隨著產品在（zài）傳（chuán）送帶上流動時能被磁鐵的強大吸引力而（ér）吸附（fù）出來,但它的局限性是隻能檢測本身帶有（yǒu）磁性的金屬。所以性能更加完善（shàn）的金屬檢測（cè）機就隨著檢測要求的提高而被很好的（de）利用（yòng）,它的主要檢測對象是金屬,金（jīn）屬大致分為三種,即鐵磁性金屬、非鐵金屬（shǔ）和不鏽鋼。檢測的難易程度（dù）是由金屬本身的導磁性和（hé）導電性決定的。如果（guǒ）是鐵（tiě）金屬本身就具有磁性而（ér）且導（dǎo）電性能良好,很容易被檢測出來;如果（guǒ）是銅、鉛、鋁等非鐵金屬（shǔ）雖然本身不具有磁性,但是導電性能良好,相對來（lái）講比（bǐ）較容易（yì）被檢測出來;不鏽鋼製品（pǐn）有很多種（zhǒng）,有的具（jù）有磁（cí）性而有的不具有磁性,而且導電性能也不（bú）盡相同。

為了獲得更好靈敏度（dù）,食品金（jīn）屬探測（cè）器的孔徑尺寸應該與特定的產品大小（xiǎo）相匹配。孔徑太大,會有‘削弱’信號的危險（xiǎn）;而孔徑太小會不便（biàn）於產品在傳送帶上通行（háng）。探測器的靈敏度通常是從由（yóu）孔徑的幾何中心測量得（dé） 來的 —— 不敏感的幾何點。當被金屬汙染的產品（pǐn）通過時（shí）,隱含的金屬物對探測器（qì）的（de）磁場產生幹擾現象,兩個接收線圈的輸出（chū）信號不能相互抵消,從而探測出金屬雜（zá）質的存（cún）在。 能夠（gòu）探測到多大小的金屬物（wù）? 靈敏度的高低取決於兩方麵的因素:孔徑（jìng）的尺寸與（yǔ）工作頻率。孔徑的尺寸越小,探頭的靈敏度就越高。例如,高度為50mm的孔徑將能夠 探測到隻有0.5mm的金屬物（wù）。其次,頻率越高,靈敏度則也越（yuè）高。不過,提高頻率並不自（zì）動意味著保證探測能力的提高,因（yīn）為它可能會使食品本身對探測器產（chǎn）生一個很強的信號,也就是通常（cháng）所說（shuō）的‘產品效應’。因此,我（wǒ）們的目（mù）標是確定一個不致出現誤動作的比較高頻率（lǜ）。這樣,探測器既探測了汙染物、又不會發出錯（cuò）誤警報,從而（ér）避免了產品的浪費。為了得到比（bǐ）較好的結果,應該對每種待檢驗的產品確定特定的探測參數並自動予以記錄和保留。 檢驗金屬探測器性能的行業標準,是（shì）通過探測器檢測到的各種（zhǒng）金屬球的尺寸。但事實上,汙染物的形狀可能是金屬絲或金屬片的碎（suì）屑。它們依自己在探測器孔徑位置的不同而對探測器會產生不（bú）同的信號,即通常所說的方位（wèi）效應。